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[供應(yīng)]東莞鐵皮檢測鍍鋅層厚度，深圳鍍層檢測元素
- 產(chǎn)品產(chǎn)地：東莞
- 產(chǎn)品品牌：東莞鐵皮檢測鍍鋅層厚度，深圳鍍層檢測元素
- 包裝規(guī)格：東莞鐵皮檢測鍍鋅層厚度，深圳鍍層檢測元素
- 產(chǎn)品數(shù)量：111
- 計(jì)量單位：個(gè)
- 產(chǎn)品單價(jià)：111
- 更新日期：2025-01-04 19:30:58
- 有效期至：2035-01-02
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東莞鐵皮檢測鍍鋅層厚度，深圳鍍層檢測元素
詳細(xì)信息
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膜厚測試膜層厚度指基體上的金屬或非金屬覆蓋層的厚度，例如PCB板工藝中的Cu/、Ni/Au層，合金上的Ni/Cr覆蓋層，塑料件上的金屬膜層，金屬上的油漆涂層等等。檢測行業(yè)中常見有以下幾種膜厚測試方法:金相測厚、熒光測厚、SEM測厚、XPS深度剖析、臺(tái)階測厚等等。各方法適用范圍與特點(diǎn)如下:
金相測厚:
使用設(shè)備為金相顯微鏡。此方法適用于測量厚度＞1μm的金屬膜層，可同時(shí)測量多層。被測樣品需要經(jīng)垂直于待測膜層取樣進(jìn)行金相制樣，再在金相顯微鏡下觀察并拍照測量待測膜層厚度。
SEM測厚:
使用設(shè)備為掃描電子顯微鏡(SEM)。此方法測試范圍寬，適用于測量厚度0.01μm~1mm的金屬或非金屬膜層。樣品前處理與金相測厚相同。配有能譜附件(EDS)的SEM設(shè)備可以確定每一層膜層的成分。
熒光測厚
使用設(shè)備為XRF測厚儀。此方法適用于測量厚度＞0.01μm的金屬膜層，可同時(shí)測量多層。測量前需知道樣品的鍍膜工藝信息(如基材材料、膜層材料及順序)?？梢詫?shí)現(xiàn)無損檢測(視樣品)
XPS深度剖析:
使用設(shè)備為X射線光電子能譜儀(XPS)。此方法適用于測量納米級(jí)厚度的膜層。XPS設(shè)備可以測試樣品極表面的元素成分(每次測量的信息深度為5nm左右)，并且可以在樣品室內(nèi)直接對(duì)樣品表面進(jìn)行濺射，可以去除指定厚度(納米級(jí))的表層物質(zhì)，這兩個(gè)功能結(jié)合使用就可以測量出納米級(jí)膜層的厚度。如樣品最表面成分為銠元素，逐步濺射掉表面50nm后發(fā)現(xiàn)成分中開始出現(xiàn)大量的鉑元素，那么可以判斷測試位置銠膜的厚度約為50nm
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