金東霖供應(yīng)菲希爾(FISCHER)膜厚測試儀能夠有效并精確的測量合金屬成分，只需短短數(shù)秒鐘，所有從17號元素氯到92號元素鈾的所有元素都能準確測定。而且在不使用標準片做校正的情況下可達到一個相當(dāng)不錯的測量結(jié)果.X射線測厚儀操作也十分簡單不需要復(fù)雜、昂貴的儀器來抽真空，操作員只需將測試面朝下，不論大小的樣品可直接放進測量室內(nèi)，不用調(diào)距離，只需對準位置，便能在正常的環(huán)境下測量從元素Z＝13鋁到Z＝92（鈾），固定、漿狀及液體的樣本也可以測量，即使是極小不規(guī)則形狀的測量面積也可快速、免接觸的測量。

可變焦距控制功能和固定焦距控制功能  
計算機系統(tǒng)配置  戴爾計算機  
分析應(yīng)用軟件  操作系統(tǒng)：Windows2000中文平臺 分析軟件包：SmartLink FP軟件包  
X射線測厚儀測厚范圍  可測定厚度范圍：取決于您的具體應(yīng)用。  
－基本分析功能  采用基本參數(shù)法校正。根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標準樣品。  
樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)  
可檢測元素范圍：CL17 – U92   

X射線測厚儀的應(yīng)用范圍 :   1、分析電子部品電鍍層的厚度 
                         2、各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析    
                           3、各鍍層的成分比例分析。
聯(lián)系人：王生：13316557996
電話：0755-29371655  
傳真：0755-29371653   
www.kinglinhk.com  
深圳寶安沙井北環(huán)大道新橋綜合大樓502