AgilentE4982A回收LCR表 1MHz-3GHz
E4982A射頻LCR表產(chǎn)品介紹
高速元器件測(cè)試的新標(biāo)準(zhǔn)

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 -SMD電感器和EMI濾波器等無(wú)源器件在制造過(guò)程中同城需要在高頻率上進(jìn)行阻抗測(cè)試，AgilentE4982ALCR表為這種條件下的測(cè)試提供了最佳性能。除了制造領(lǐng)域，E4982A還可用于研發(fā)，并以強(qiáng)大的功能（例如列表測(cè)量）為您提供質(zhì)量保證、E4982A以其無(wú)與倫比的測(cè)量速度和可重復(fù)性，卓越的精度和阻抗范圍，成為當(dāng)之無(wú)愧的高速元器件測(cè)量新標(biāo)準(zhǔn)

E4982ALCR表，1MHz～300M/500M/1G/3GHz

主要特性與技術(shù)指標(biāo)

頻率

1MHz～300MHz/500MHz/1GHz/3GHz，可升級(jí)

測(cè)量時(shí)間

高速測(cè)量：0.9ms（模式1）、2.1ms（模式2）、3.7ms（模式3）

基本的精度和阻抗范圍

0.8%的基本精度與無(wú)與倫比的測(cè)量可重復(fù)性

寬阻抗測(cè)量范圍：140mΩ～4.8kΩ

更多特性

SCPI命令和處理器接口與4287A兼容

小巧的測(cè)試頭（與4287A的尺寸相同）

列表測(cè)量

通用PC連通性（GPIB、LAN和USB）

描述

E4982ALCR表可為SMD電感器、EMI濾波器等無(wú)源元器件的制造測(cè)試提供最佳性能，其中需要在高頻率上進(jìn)行阻抗測(cè)試（1MHz～3GHz）。除了制造測(cè)試之外，E4982A還可用于研發(fā)領(lǐng)域，借助強(qiáng)大的功能（例如列表測(cè)量）提供質(zhì)量保證。

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