標(biāo)準(zhǔn)主機(jī)包含單色化Al K?? X射線(xiàn)源和Mg/Al K??雙陽(yáng)極非單色化X射線(xiàn)源，可實(shí)現(xiàn)大面積XPS分析、小面積XPS分析和ISS分析以及XPS快速平行成像等功能。 兼容多種其它表面分析技術(shù)，如 AES/SAM、UPS，并可增加各類(lèi)樣品制備裝置。 高功率的單色化Al K?? X射線(xiàn)源，確保最高的分析靈敏度。 平均半徑165mm的能量分析器，確保高能量分辨XPS分析。 專(zhuān)利的浸入式磁透鏡技術(shù)，大幅度提高分析靈敏度。 專(zhuān)利的XPS Mapping技術(shù)，最小束斑15??m，可進(jìn)行微區(qū)元素和化學(xué)態(tài)空間分布分析。 專(zhuān)利的同軸超低能無(wú)陰影單電子源荷電中和器，完美解決絕緣體XPS分析。 全自動(dòng)5軸常中心樣品臺(tái)，實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)角分辨XPS分析。 最佳能量分辨率優(yōu)于 0.45eV（Ag 3d5/2）。 常規(guī)分析能量分辨和靈敏度高達(dá)0.55eV@1.1Mcps（Ag 3d5/2）。 絕緣體分析的分析能量分辨和靈敏度高達(dá)0.68eV@16kcps（PET的C 1s）。 選配單色化Al/Ag雙陽(yáng)極X射線(xiàn)源，實(shí)現(xiàn)高能XPS分析。 結(jié)合了數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理的Vision軟件，可運(yùn)行于Windows XP/Vista/7等多種平臺(tái)下，實(shí)現(xiàn)各真空室真空度實(shí)時(shí)顯示，操控真空閥門(mén)開(kāi)關(guān)，實(shí)驗(yàn)條件設(shè)定和全自動(dòng)無(wú)人值守分析等強(qiáng)大功能。 聯(lián)系人 區(qū)經(jīng)理 電話(huà) 13823581593 QQ 2868059266 地址 深圳市福田區(qū)八卦三路88號(hào)榮生大廈702室 固定電話(huà)：0755-25870896 網(wǎng)址 www.ges-tech.cn