SP-754PC紫外可見分光光度計(jì)光譜掃描 儀器功能 
?光度測量     可同時(shí)測量1～6個(gè)波長處的透過率和吸光度. 
?光譜測量     在波長范圍內(nèi)進(jìn)行透過率、吸光度和能量的圖譜掃描,并可進(jìn)行 
               各種數(shù)據(jù)處理如峰谷檢測、導(dǎo)數(shù)運(yùn)算、譜圖運(yùn)算等. 
?定量測量     單波長、雙波長、三波長和多波長測定.1～9點(diǎn)工作曲線1～4次回歸. 
?動(dòng)力學(xué)測定   在任意設(shè)定的波長處進(jìn)行透過率和吸光度的時(shí)間掃描并可進(jìn)行 
               各種數(shù)據(jù)運(yùn)算. 
?數(shù)據(jù)輸出     可進(jìn)行數(shù)據(jù)文件和參數(shù)文件的存取,測量結(jié)果以標(biāo)準(zhǔn)通用的 
               數(shù)據(jù)文件格式輸出.
技術(shù)參數(shù)：
性能指標(biāo)： 
測光方式     透過率 吸光度 能量 
波長范圍    190 nm～1100 nm 
光譜帶寬    1nm 
雜散光          ≤0.03%T 220nm NaI溶液 
波長準(zhǔn)確度 ±0.3nm 
波長重復(fù)性 0.1nm 
光度范圍      -4A～4A 
光度準(zhǔn)確度 ±0.3%T0～100%T,±0.002A0-0.5A,±0.004A0.5-1A 
光度重復(fù)性 0.001A0-0.5A,0.002A0.5-1A 
穩(wěn)定性          ≤±0.0004A/h 
噪聲              ≤±0.0003A 
基線平直度 ≤±0.001A
儀器級(jí)別：A類 
主要特點(diǎn)：
?全新設(shè)計(jì)的優(yōu)良的光學(xué)系統(tǒng),高性能的全息閃耀光柵,確保了儀器的低雜散光. 
?雙光束測光系統(tǒng),配合設(shè)計(jì)先進(jìn)的電路測控系統(tǒng).使儀器具有高度的穩(wěn)定性和 
極低的噪聲. 
?全自動(dòng)的控制系統(tǒng),先進(jìn)的設(shè)計(jì)理念,確保儀器具有高可靠性和高穩(wěn)定性. 
?可拆卸結(jié)構(gòu)的樣品室設(shè)計(jì),易于更換不同的附件.以滿足不同的分析需求. 
?寬敞型開放式光源室設(shè)計(jì),使燈源更換更加方便. 
?關(guān)鍵部件均選用進(jìn)口器件.保證了儀器性能的高可靠性. 
聯(lián)系人： 馬達(dá)      021-6051-1068 

SP-754PC紫外可見分光光度計(jì)光譜掃描