CHY-C2  薄膜測厚儀
薄膜測厚儀產(chǎn)品名稱：測厚儀，薄膜測厚儀，紙張測厚儀，高精度測厚儀
薄膜測厚儀型號：CHY-C2
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薄膜測厚儀產(chǎn)品用途：適用于塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
薄膜測厚儀產(chǎn)品特點：
1. 接觸式測量
2. 測頭自動升降
3. 手動、自動雙重測量模式
4. 數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印
5. 顯示最大值、最小值、平均值和統(tǒng)計偏差
6. 標準接觸面積、測量壓力（非標可選）
7. 標準量塊標定
薄膜測厚儀技術參數(shù)：
1. 測量范圍：0～2mm（常規(guī)）
                   0～6mm；12mm（可選）
2. 分 辨 率：0.1μm 
3. 測量速度：10次/min（可調(diào)）
4. 測量壓力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（紙張） 
5. 接觸面積：50mm2（薄膜）；200mm2（紙張） 
           注：薄膜、紙張任選一種；非標可定制
薄膜測厚儀標準配置：主機、微型打印機、標準量塊一件
薄膜測厚儀依據(jù)標準：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777
薄膜測厚儀關鍵字：測厚儀，薄膜測厚儀，紙張測厚儀，高精度測厚儀
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