X-RAY膜厚測(cè)量?jī)x的基本操作軟件是WINFTM V6 LIGHT，在這件軟件的支持下可以同時(shí)間測(cè)量多至層鍍層、或進(jìn)行多至5元素的合金分析、又或是最多測(cè)量?jī)蓚€(gè)正離子的藥水濃度測(cè)量分析,用于電子元器件,半導(dǎo)體,PCB,汽車零部件,功能性電鍍,裝飾件,連接器等多個(gè)行業(yè). 高性能、高精密、高分辨。

X-RAY膜厚測(cè)量?jī)x的一般技術(shù)規(guī)格:
1.使用的范圍:用于測(cè)量薄膜層的厚度及電鍍藥水中的成份分析.
2.元素范圍 :從CL(17)to鈾(92),同時(shí)可檢測(cè)多至5個(gè)元素,甚至多到24種元素也可檢測(cè).
3.測(cè)量方向:X射線方向是由上向下的設(shè)計(jì).
4.X射線源:鎢靶及鈹窗口的X-射線管
5.高壓: 可調(diào)節(jié)30KV,40KV,50KV
6.準(zhǔn)值器:0.3mm,(選配圓形0.1mm,0.2mm,長(zhǎng)方形0.3mm*0.05mm)
7.接收器:比例接收器
8.采用高解像的CCD彩色攝影機(jī)來(lái)監(jiān)測(cè)測(cè)量位置,影像的攝影是與基本X-射線光束在相同的軸上,在對(duì)焦方便可作手動(dòng)或自動(dòng)對(duì)焦,對(duì)位的十字線是可以調(diào)校其刻度及測(cè)量點(diǎn)的大小,而且可以調(diào)節(jié)照明用的發(fā)光二極管的光亮度.

X-RAY膜厚測(cè)量?jī)x是可用于鍍層分析,有限的控制生產(chǎn)品質(zhì).德國(guó)菲希爾銅層膜厚分析儀原廠出口,質(zhì)量有所保證, 并且穩(wěn)定性高,測(cè)量準(zhǔn)確.

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