TSI3938掃描電遷移率粒徑譜儀特點與優(yōu)勢

高分辨率數(shù)據(jù)：高達167通道1nm到1，000nm的極寬粒徑范圍符合ISO15900:2009標(biāo)準(zhǔn)快速測量：<10s掃描寬濃度范圍，高達107顆粒/cm3給您最大靈活度的組件設(shè)計觸摸屏控制無需電腦操作免工具安裝易于設(shè)置，自動發(fā)現(xiàn)組件審慎的顆粒測量：適合多模樣品不依賴于粒子和流體的光學(xué)性質(zhì)寬系統(tǒng)配置選項：可選水介質(zhì)或丁醇介質(zhì)凝聚粒子計數(shù)器；可選傳統(tǒng)的或無輻射中和器  

 TSI3938掃描電遷移率粒徑譜儀產(chǎn)品詳情

TSI推出的SMPSTM掃描電遷移率粒徑譜儀被廣泛應(yīng)用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測量標(biāo)準(zhǔn)。該系統(tǒng)同樣被應(yīng)用于對液體懸浮顆粒進行精確的納米顆粒粒徑測量。美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)局（NIST）使用TSI差分靜電遷移率分析儀（DMA）對60nm和100nm的標(biāo)準(zhǔn)參考粒徑進行測量。SMPSTM掃描電遷移率粒徑譜儀粒徑測量是審慎的技術(shù)，在該技術(shù)方法中計數(shù)濃度會被直接測量而無需假設(shè)粒徑分布的形狀。該方法不依賴于粒子或液體的折射率且具有高度的絕對粒徑測量精度和測量可重復(fù)性。TSI的3938型儀器是SMPS第三代產(chǎn)品，歷經(jīng)30年深受研究者信任。

 TSI3938掃描電遷移率粒徑譜儀應(yīng)用

納米技術(shù)研究和材料合成大氣研究和環(huán)境檢測燃燒和發(fā)動機排放研究室內(nèi)空氣質(zhì)量測量成核/凝結(jié)研究吸入毒理學(xué)研究  

 TSI3938掃描電遷移率粒徑譜儀所含項

與您自選DMA差分靜電遷移率分析儀配套的靜電分級器七款凝聚粒子計數(shù)器之一AerosolInstrumentManager?氣溶膠儀器管理軟件  用于數(shù)據(jù)采集的電腦須單獨購買。