TSI3938掃描電遷移率粒徑譜儀特點(diǎn)與優(yōu)勢(shì)

高分辨率數(shù)據(jù)：高達(dá)167通道1nm到1，000nm的極寬粒徑范圍符合ISO15900:2009標(biāo)準(zhǔn)快速測(cè)量：<10s掃描寬濃度范圍，高達(dá)107顆粒/cm3給您最大靈活度的組件設(shè)計(jì)觸摸屏控制無(wú)需電腦操作免工具安裝易于設(shè)置，自動(dòng)發(fā)現(xiàn)組件審慎的顆粒測(cè)量：適合多模樣品不依賴于粒子和流體的光學(xué)性質(zhì)寬系統(tǒng)配置選項(xiàng)：可選水介質(zhì)或丁醇介質(zhì)凝聚粒子計(jì)數(shù)器；可選傳統(tǒng)的或無(wú)輻射中和器  

 TSI3938掃描電遷移率粒徑譜儀產(chǎn)品詳情

TSI推出的SMPSTM掃描電遷移率粒徑譜儀被廣泛應(yīng)用于測(cè)量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)。該系統(tǒng)同樣被應(yīng)用于對(duì)液體懸浮顆粒進(jìn)行精確的納米顆粒粒徑測(cè)量。美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)局（NIST）使用TSI差分靜電遷移率分析儀（DMA）對(duì)60nm和100nm的標(biāo)準(zhǔn)參考粒徑進(jìn)行測(cè)量。SMPSTM掃描電遷移率粒徑譜儀粒徑測(cè)量是審慎的技術(shù)，在該技術(shù)方法中計(jì)數(shù)濃度會(huì)被直接測(cè)量而無(wú)需假設(shè)粒徑分布的形狀。該方法不依賴于粒子或液體的折射率且具有高度的絕對(duì)粒徑測(cè)量精度和測(cè)量可重復(fù)性。TSI的3938型儀器是SMPS第三代產(chǎn)品，歷經(jīng)30年深受研究者信任。

 TSI3938掃描電遷移率粒徑譜儀應(yīng)用

納米技術(shù)研究和材料合成大氣研究和環(huán)境檢測(cè)燃燒和發(fā)動(dòng)機(jī)排放研究室內(nèi)空氣質(zhì)量測(cè)量成核/凝結(jié)研究吸入毒理學(xué)研究  

 TSI3938掃描電遷移率粒徑譜儀所含項(xiàng)

與您自選DMA差分靜電遷移率分析儀配套的靜電分級(jí)器七款凝聚粒子計(jì)數(shù)器之一AerosolInstrumentManager?氣溶膠儀器管理軟件  用于數(shù)據(jù)采集的電腦須單獨(dú)購(gòu)買。